[반도체공정] LPCVD(Low Pressure Chemical Vapor Deposition)

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목차
CVD
반응로와 증착 원리
화학 기상 증착 변수의 영향
다결정 실리콘 성장
LPCVD 박막의 이용

본문내용
수평 대기압 반응로의 단점
throughput이 적음
gas flow rate가 큼 (H2 : 250 ℓ/min)
RF 전력 공급기가 고가이고 유지비가 큼


저압 반응로의 장점
throughput이 큼
gas flow rate가 작음
system의 가격이 저렴함


반응로와 증착 원리

LPCVD 시스템의 특성
성장율은 온도에 민감
(그림 1-2)
압력의 수 torr의 감소는 1000배의 확산 증가
→ 균일성이 좋아짐
반응실의 벽에도 증착
wafer to wafer 균일성을 얻기 힘듬


[그림 1-9] 900℃에서30분간 POCl3로 선확산하고850℃에서 수증기 산화한 후의 산화막 두께와 면저항과 관계. 초기 면저항은(100) 실리콘 단결정을
기준으로 한 것이다.



LPCVD의 장점

- wafer, wafer-wafer에서 막두께 및 비저항이 균일
- auto-doping이 적다.
- 저온 공정이 가능하다.
- 처리량이 많다.
- wafer를 수직으로 세워 공정하므로 불순물 오염이 적다.
- grain 크기 조절이 용이
- in-situ 도핑이 가능하다.

참고문헌
“Chemical Vapor Deposition.”
http://www.ee.ucla.edu/~jjudy/
classes/EEe150L/lectures.
“Deposition Processes”
http://www.ee.ucla.edu/~jjudy/
classes/EEe150L/lectures
박막 공정 자료 http://www.ofthinfilm.com/thinfilm_content00.htm
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