기초 전자회로 실험

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본문내용
*
기초 전자 회로 실험
*
접합 다이오드 특성
1. 접합 다이오드에서 전류에 대한 순방향, 역방향 바이어스의 효과를 측정한다.
2. 접합 다이오드의 전압-전류특성을 실험적으로 측정하고 그래프를 그려본다.
3. 옴메타로 접합 다이오드를 검사한다.
실험목적
*
기 초 이 론
반도체
저항율이 전도체와 절연체 사이에 존재하는 고체
트랜지스터, 접합 다이오드, 제너 다이오드,
터널 다이오드, 집적회로
초기에는 게르마늄(Ge)으로 제조되었으나 현재
내온성이 있는 실리콘(Si)으로 제조
진성반도체 (Intrinsic Semiconductor)
높은 저항율과 낮은 전도도
불순물반도체 (Extrinsic Semiconductor)
미세한 양의 불순물 첨가, 전도도 증가
*
반도체의 전류 캐리어
p형 반도체
인듐 (In), 갈륨 (Ga) 등을 첨가하여 반도체내의
정전하 캐리어(정공)수 증가 실리콘 (Si)의 도전율증가
n형 반도체
비소 (As), 안티몬 (An) 등을 첨가하여 부전하 캐리어(자유전자)수 증가. 실리콘 (Si)의 도전율 증가
반도체 접합 다이오드의 동작
한 방향으로는 전류를 쉽게 흘리고, 다른
방향으로는 거의 전류가 흐르지 않는 특성
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