[재료공학실험] FE-SEM EBSD장비를 이용한 시료의 집합조직 분석 예비 보고서
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- 목차
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목 차
1. 실험 목적
2. 배경 이론
3. 실험 장치 및 방법
3-1. SEM(Scanning Electron Microscope)
Information Obtained
3-2. EBSD(Electron BackScatter Diffration Pattern)
3-3 OIM(Orientation Imaging Microscopy)
3-4 실험 내용
4. 실험 결과
5. 실험 예비 문제 (A4용지 2매이내 작성)
6. 참고 문헌
- 본문내용
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1980년대부터 집합조직을 방위분포함수(ODF, orientation distribution function)으로 정 량적으로 표현하기 시작했고, 현재 집합조직을 연구하는 대부분의 연구는 집합조직을 X-선 회절법이나 EBSD(electron backscattered diffraction)로 측정하여 방위분포함수로 계산하 고 있다.
3. 실험 장치 및 방법
3-1. SEM(Scanning Electron Microscope)
Images are produced by scanning a focused electron beam across the surface of a specimen. In the most common mode, the low energy secondary electrons emitted are detected and used to modulate the brightness of a synchronously scanned CRT. Other signals can also be detected. X-rays, characteristic of that part of the specimen probed by the electron beam, allow both a qualitative and quantitative determination of the elements present in the selected region. High energy backscattered electrons can be separated and used for image formation. Since the backscattering efficiency is a function of atomic weight, this image reveals compositional variations due to average atomic number.
Information Obtained
- 참고문헌
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6. 참고 문헌
1) Introduction to Textre Analysis Macrotexture, Microtexture and Orientation Mapping,
Valerie Randle, Olaf Engler
2) Texture Analysis in Materials Science, H.-J. Bunge, Peter R. Morris
3) EBSD - OIM ACADEMY-Ⅱ
고려대학교
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