기초 회로 실험 - ttl cmos
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2. 실험 분석
1번 실험은 NOR게이트의 특성을 확인하는 것이였는데 A,B에 둘다 0V 인가시에만 작동을 하는 것을 확인했고
2번 실험 또한 NAND게이트의 특성에 따라 A,B에 둘다 input이 있을 경우에만 작동을 하는 않는 것을 확인할 수 있었다.
3번 실험은 저항을 인가하여 값의 변화를 관찰하는 실험이었는데 저항의 크기에 따라 값이 미세하게 커지는 것을 관찰할 수 있었지만 거의 변화가 없었어야 정확했을 것 같다.
4번 실험 또한 저항을 인가하여 값을 변화를 관찰하는 것이었는데 저항이 커질수록 값이 작아지는 경향을 보였지만 거의 미미한 수치여서 결국 값은 저항의 영향을 받지 않는 것 같다.
5번 실험은 CMOS에 TTL게이트를 인가했을 때 나오는 구형파의 전압레벨을 측정하는 것이였는데
6번 실험은 TTL게이트에 CMOS게이트를 인가했을때 각 지점에서의 파형을 관찰하는 실험이었는데 여러 시도를 해보았지만 완벽한 구형파는 나오지 않았다. 이유로는 여러 소자들이 가지고 있는 고유의 오차와 여러번 사용한 전선에 남아있는 저항값과 미세한 전류들이 실험에 쌓여서 큰 오차를 발생 시킨 것 같다. 오차가 난 실험 결과 값으로 유추하여 보자면
4001소자의 핀1에서는 입력과 반전된 구형파가 나오고
4001소자의 핀3에서는 반전된 파형이 또 반전되어 입력과 같은 구형파가 측정되며
4050소자의 핀2에서는 입력받은 파형을 다시 출력하여 입력과 같은 구형파가 나오고
7406소자의 핀4에서는 다시 반전되어 입력된 파형에 반전되어 나온 구형파가 나와야 맞는 것 같다.
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