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- 목차
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Ⅰ. 현미경과 위상차현미경
Ⅱ. 현미경과 광학현미경
1. 광학 현미경을 위한 표본들의 준비와 염색
2. 분해능(해상력) : 실제적 한계
Ⅲ. 현미경과 공초점현미경
Ⅳ. 현미경과 형광현미경
Ⅴ. 현미경과 전자현미경
1. 투과전자현미경(transmission eletron microscope)
2. 주사전자현미경(scanning eletron microscope)
참고문헌
- 본문내용
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Ⅰ. 현미경과 위상차현미경
빛 파장의 회절과 간섭의 지식을 응용해서 위상의 차이들을 진폭의 차이들로 전환. 균일한 광원으로부터 표본에 의해 회절된 빛이 물리적으로 분리된다. 회절되지 않은 빛의 상은 그것의 광경로의 기계적 조절로 변동된다. 작은 양의 회절되지 않은 빛은 일반적으로 흡수된다. 회절된 빛과 경로를 수정시킨, 회절되지 않은 빛이 재결합 될 때 진폭은 파장이 상 밖일 때 감소되거나 파장이 상 안일 때 증가하게 된 다. 대조의 양은 상쇄간섭이나 보강간섭의 정도에 의존한다. 일반적으로 위상차 system은 positive phase contrast라 불리는데, 이는 위상이 후퇴되어 있는(phase -retarding)표본이 밝은 배경에서 어둡게 보이도록 optical component들을 고안했기 때문이다.
위상차현미경은 기본적으로 bright-field system의 연장선상에 있는 것이다. 다만 두 가지 주요한 광학적 변화가 bright-field microscope를 위상차 현미경으로 전환시킨다. 그 첫째로, 위상차현미경의 콘덴서에는 고리 모양의 광학적 투명영역(translu -cent area)과 불투명판(opaqus plate)으로 구성된 phase annulus가 있다. phase annulus는 bright-field microscope의 광도조절기(iris diaphragm)를 대신한다. 둘째로 phase contrast objective의 back focal plane은 광학적으로 투명한 phase plate를 갖고 있다. 표본에 의해 회절된 빛은 전체 대물렌즈의 구경을 가로질러 퍼 져나간다. 이때 회절되지 않은 빛은 표본 위로 발산해서 역삼각뿔 모양으로 대물렌즈 내로 들어간다. 이 회절되지 않은 빛은 phase plate의 annular region을 통과해 나간다. 표본에 의해 회절된 빛은 주로 annulus 바깥의 phase plate부분을 통해 이 동한다. 이런 방식의 회전된 빛은 회절되지 않은 빛에 비해 위상이 지체된다.
- 참고문헌
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▷ 김종안 외 4명(2009), 광학 현미경을 이용한 선표준물 측정 시스템 개발, 한국정밀공학회
▷ 김윤희(2008), 형광현미경의 임상적 활용에 대한 교재개발과 실기교육, 전주기전대학
▷ 김진태 외 2명(2010), 전자 현미경을 이용한 전자빔 리소그래피 장치의 구현, 한국물리학회
▷ 김종문 글, 임혜경 그림(2011), 현미경 속 작은 세상의 비밀, 예림당
▷ 송우섭 외 4명(2011), 공초점 현미경의 발전과 응용된 다양한 생물 연구 소개, 한국광학회
▷ 정수진(2009), 위상차현미경의 보급률 및 사용실태 조사연구, 단국대학교
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