[일반물리실험] 휘스톤 브리지를 이용한 전기저항 측정

저항 변화를 휘스톤 브리지 등을 이용하여 측정함으로써 온도를 측정한다.열선유속계에서 나오는 전기신호들은 증폭기와 필터회로 등을 거친 후, A/D변환을 하여 디티절 값으로 변환된다. 다른 계측기와 마찬가지로 실험 전에 주어진 유속에 대한 출력 전압과의 함수관계를 구하는 보정작업을 수행하여야 한다. 보정함수로E ^2 =A+BU ^n를 주로 사용하고 있다. n은 센서크기에 의존하는 상수로서 일반적으로 0.45 LEQ n LEQ 0.52 범위의 값을 갖는다.그림에

저항의 변화율이 비례하는 특성을 갖는데 Strain gage는 바로 이 특성을 응용한 것이다. 그리고 이 변형률과 저항 변화율의 비를 게이지 factor라고 하며 Strain 게이지 제작사에서 제공되는 값을 사용한다. 측정된 Strain은 브리지 회로의 출력전압으로 나타나지만 실제로는 저항의 변화를 측정하는 것이므로 게이지 Factor만 있으면 저항 변화량으로부터 변형률을 바로 구해 낼 수 있다. 즉, 스트레인 게이지(Strain Gage)는 물리적인 변형량(Strain)을 전기적인 신호

물리학 및 실험2휘스톤 브릿지레포트실험 제목 : 휘스톤 브릿지를 이용한 전기저항 측정실험 목표 : 휘스톤 브릿지의 구조와 사용 방법을 알고, 이것을 이용하여 미지의 전기저항을 정밀하게 측정하자.실험 원리 : 휘스톤 브릿지는 그림 2.5.1(a) (참고자료 p.197 참고)와 같이 R1,R2, Rk, Rx를 연결하고, 점a와 b사이를 검류계 G로 연결하고 두 점 사이의 전위차를 알아볼 수 있게 한 장치이다. 이 휘스톤 비릿지는 R1과 R2 및 Rk를 적당히 조절하여 검류계에 전

실험 측정에 오차가 발생하여 R의 이론값아 크게 나왔다.실험 측정 전 기기 작동 방식을 숙지하고 측정한다.③ R=1K, R=2K의 그래프 개형을 보면, 실험 4회차에서 오차율이 가장 크게 측정되었다.y K휘트스톤 브리지는 4개의 저항이 다이아몬드 모양으로 연결된 회로로 알려지지 않은 저항값을 측정하기 위해서 사용한다.휘트스톤 브리지는 1833년 새뮤얼 헌터 크리스티에 의해 처음 고안된 회로를 이후 1843년영국의 물리학자 찰스 휘트스톤 경(Sir Charles

실험 전 측정한 너비와 두께 치수를 이용하여 A0를 구할 수 있다.응력 sigma = P over A0 (N/m2)(2) 변형률 : 실험 중 10초 간격으로 촬영한 사진을 포토샵을 이용하여 시편에 찍었던 각 게 이지점의 무게중심점을 표시한 후 무게중심점 사이의 픽셀 간격을 구하면 실제 시편의 게이지 간격 L0(변위)에 대한 비례식을 이용하여 변형량 δ를 구할 수 있다.변형률 epsilon = L-L 0 over L 0 = delta over L 0(3) 응력-변형률 선도 : x축을 변형률, y축을 응력으로