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주사전자현미경[Scanning Electron Microscope-SEM]
전자다발을 한점에 모이게 하는 장치주사장치-전기력을 이용하여 전자 다발을 옆으로휘게 하는 장치초점렌즈-전자다발이 시료 표면에 정밀하게 부딪치게 하기위한 장치전자 검출기-충돌한 전자에 의해 시료에서 튀어나온 전자를 검출하는 장치컴퓨터-관측된 시료의 모양을 모니터에 그림
11페이지 | 2,000원 | 2013.12.23
주사전자 현미경-SEM [Scanning Electron Microscope]에 대해서
원리②>4. SEM의 구성SEM은 집광렌즈(condenser)와 대물렌즈(objective)를 가지고 있으나, 광학현미경이나 투 과전자현미경(TEM)처럼 빛의 법칙에 따라서 화면을 형성하지 않고, 전자기렌즈가 전기가 통하는 시편의 표면에 초점을 형성한 전자임 spot을 형성하고 이 spot이 관찰하고자 하는 시편부위를 scanning하여
11페이지 | 2,000원 | 2014.03.26
[공학]주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
주사전자현미경(SEM)주사전자현미경(SEM)계획 사항~ 현재(5월) : SEM 관련 자료 조사 장익선 – 기본 원리 및 관련 논문 조사강정우 – 관련업체 및 시판중 현미경 조사김신애 – 모둘별 필요 분야 조사6월 : 조양구 박사 논문 공부, coxem 회사 견학 및 시뮬레이션.7월 : 전자총 설계 및 시뮬레이션.8월 :
14페이지 | 1,600원 | 2010.08.14
SEM(Scanning Electron Microscope) 주사 현미경
원리②>4. SEM의 구성SEM은 집광렌즈(condenser)와 대물렌즈(objective)를 가지고 있으나, 광학현미경이나 투 과전자현미경(TEM)처럼 빛의 법칙에 따라서 화면을 형성하지 않고, 전자기렌즈가 전기가 통하는 시편의 표면에 초점을 형성한 전자임 spot을 형성하고 이 spot이 관찰하고자 하는 시편부위를 scanning하여
12페이지 | 2,000원 | 2013.12.23