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주사전자현미경[SEM, FE-SEM], X선 형광 분석기[XRF],X선 회절 분석기[XRD],[TG-DTA], 입도분석기
주사전자현미경 (SEM, FE-SEM)- 개요 -NT(Nano Technology)의 연구가 증가하면서 자연스럽게 미세구조물 또는 재료의 표면 형상에 대한 정보가 요구되고 있는 것이 현재의 추세이다. 이러한 요구를 충족시키기 위하여 전자현미경이 계발 되었다.주사전자현미경(SEM)은 10 ^-5Torr 이상의 진공 중에 놓인 시료표면
14페이지 | 2,200원 | 2013.12.23
주사전자현미경의 노이즈(Noise) 제거방법에 대한 연구
전자공학이나 기계제어 분야에서는, 위의 경우처럼 측정계에 혼입되거나 혹은 측정계 내에서 발생하여, 우리가 얻고자 하는 신호(혹은 데이터)의 전달 또는 수신을 방해하는 것들을 노이즈(Noise)라고 정의한다.주사전자현미경에서도 이러한 노이즈의 영향이 있다. 주사전자현미경에서 영상을 형성하
7페이지 | 1,400원 | 2010.07.13
[SEM촬영 보고서] 주사전자 현미경을 이용한 이미지 관찰 실험(전복껍데기와 손톱의 미세구조)
주사 전자 현미경우리가 이번 실험에서 시편의 미세구조를 파악하기 위해 사용하는 전자현미경으로 주사전자현미경은 전자선이 시료면 위를 주사(scanning)할 때 시료에서 발생되는 여러 가지 신호 중 그 발생확률이 가장 많은 이차전자(secondary electron) 또는 반사전자(back scatt
11페이지 | 2,000원 | 2015.04.03
주사전자 현미경-SEM [Scanning Electron Microscope]에 대해서
주사전자빔을 이용하였으 나 이는 얇은시편을 투과하는 전자빔, 즉 STEM(scanning transmission electron microscope)이였다.1948년 케임브리지대학의 C.W. Oatley는 Zworykin의 아이디어 에 기 초를 두고 SEM의 제작을 시작하였으며 그의 대학원생인 D. McMullan은 박사학위 논 문에서 500Å의 분해능까지 얻을 수 있다고 주장하
11페이지 | 2,000원 | 2014.03.26