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[반도체] The Principle and Application of AFM in semiconductor process
The Principle and Application of AFM in semiconductor process*IntroductionThe description of SPM (Scanning Probe Microscopy)The principle and properties of AFM (Atomic Force Microscopy)The AFM application to semiconductor manufacturingConclusionReferenceOutline*How to measure nanostructures?Figure 2: AFM image of the nano structure of a silicon nitride film measured in contact mode. F
27페이지 | 2,100원 | 2010.04.26
AFM 측정 모드별 장단점비교와 특성,NSOM장비의 작동원리와 응용 분야에관한 리포트
REPORT 1. AFM 측정 모드별 장단점 비교와 특성에 대해 서술하시오.(1) AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리AFM는 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데, 이 프로브는 프로브의 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘(나노뉴톤)에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever) 끝에 원
4페이지 | 2,000원 | 2012.06.24
Principles of Instrumental Analysis이론 및 원리SEM & AFM★ SEM전자현미경SEMTEM주사전자현미경투과전자현미경scanning electron microscopetransmission electron microscope광학현미경VS.Illumination Source 사용낮은 해상도Electron 사용높은 해상도Principles of Instrumental Analysis이론 및 원리SEM & AFM★ SEM시료의 표면으로부터
23페이지 | 1,900원 | 2012.03.21
나노소재기기분석 조별발표SEM & AFM목 차Ⅱ. AFM을 이용한 세포의 물리적 특성 분석 1. 연구 배경 2. 기존의 연구방법3. AFM을 이용한 분석과 분석결과4. 연구 결과Ⅰ. FE-SEM을 이용한 열연 FB강의 Bainite와 Martensite 분석 1. 연구 배경 2. 기존의 연구방법3. SEM을 이용한 분석과 분석결과4. 연구 결과Ⅰ. F
24페이지 | 2,100원 | 2011.03.01
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- 자신의 생각이나 의견이 상대방에게 성공적으로 설득했던 경험을 상황‧행동‧결과 중심으로 구체적으로 기술하시오.
- 자신의 생각이나 의견이 상대방에게 성공적으로 설득했던 경험을 상황‧행동‧결과 중심으로 구체적으로 기술하시오. 그것을 어떻게 극복하였는지 기술하시오.
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