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[신소재 공학] 시료 분말의 압축성형 및 소결과정 실험
1. 실험목적구리분말 시편의 성형과 소결과정을 거쳐 직접 소결체를 제조해 봄으로써 세라믹 공정중의 한 과정을 이해하고, XRD, SEM의 실험장치를 이용하여 Sintering time의 변화에 따른 소결의 결과변화를 예측 한다.2. 실험이론⑴ 시료 분말의 압축성형분말의 압축성형이란 분말을 이용해 각종 부품을
8페이지 | 1,400원 | 2010.11.09
시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용 으로 분류할 수 있다.전자의 경우는 Debye-Scherrer Camera, 후자의 경우는 Weissenberg Camera, 단결정 자동 XRD 등이 있다. 또, XRD는 X선(X-Rays)의 검출 방법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 Counter(검출기)를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다.
14페이지 | 1,200원 | 2010.06.03
분말 시료의 밀도 측정1. 실험 목적덩어리 시료의 밀도를 재는 방법에는 Archimedes의 원리를 이용한 액중 칭량법과 수은과 같은 non-wetting 액체를 이용하여 시료의 부피를 측정하는 방법이 있다. 그러나 분말 시료는 액중 칭량법을 사용할 수 없으므로 액체 비중병을 이용하거나 수은 기공률 측정 장치를
7페이지 | 1,500원 | 2009.11.26
주방용품 재료로 많이 쓰이는 Al, Fe, STS의 XRD를 통한 구조 분석
시료의 회절 pattern 과 이미 알고있는 물질의 회절 pattern 등을 비교하여 전자중에 후자의 pattern이 포함되어 있으면, 전자에는 후자의 물질이 함유되어 있다고 판정하는 방법이다. 이 방법으로 정성분석(Qualitative analysis)을 행하는 것을 분말X선회절법(Powder X-Ray Diffractometry)에 의한 정성분석, 동정(同定, Iden
10페이지 | 1,100원 | 2010.06.29
1. 설계목적이번 실험은 다양한 입도분석 방법 중에서 측정시간이 짧고 간편하 조작으로 널리 이용되는 광산란(레이저)입도분석 장치를 사용하여 최적의 분산조건(pH조절 또는 분산제 첨가)을 설계하여 제조한 세라믹시료의 분말입자의 크기와 분포를 측정하고 입자의 분산상태를 이해하여 성형공정
6페이지 | 1,500원 | 2009.11.26
X-선 분말회절 실험1. 실험 제목 : MgO - NiO 고용체 분말의 X-선 분말 회절 실험2. 실험 목적 및 필요성 - 재료과학에서 배운 X-선 회절에 대한 기본 이론과 측정 원리로부터 금속 세라믹 분말 시료의 X-선 회절 패턴을 얻고 간단한 계산을 통하여 이론을 확인한다.또한 우리가 X-선 회절 실험을 하는 목적은
16페이지 | 2,500원 | 2009.11.26
시료의 밀집 정도(packing density), 시료의 분말화 정도, 가열 속도(heating rate) 등이 있다. 이와 더불어 온도계의 검정은 가장 중요한 요인이 된다.표 3.1. 순수한 물질의 녹는점물질녹는점 범위(CENTIGRADE )물질녹는점 범위(CENTIGRADE )3,4-dichlorobenzoic acid201~202acetanilide113~114succinic acid186~188N,N-diphenylacetamide9
6페이지 | 1,200원 | 2013.12.23
[신소재공학]XRD를 이용한 미지의 시료 정량, 정성 분석
시료분석을 실습한다. 분말 형태의 시료(Al2O3 ZnO2 SiO2 TiO2 B2O3)를 임의의 조성으로 혼합한뒤, X-Ray Diffraction법으로 측정한다. 이때 얻어진 회절데이터를 바탕으로 미지의 시료의 구성성분 및 조성, 농도 그리고 결정상태등을 해석하여 본다.2. 배경이론2.1 X-Ray2.1.1 광학적 특성X선은 에너지가 0.1~1000KeV, 진
30페이지 | 1,700원 | 2010.07.20
[공학]주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
시료표면에서 발생하는 이차전자, 반사전자 신호를 검출하여 모니터에 확대상을 표시하는 장치.시료의 형태, 미세구조의 관찰, 구성원소의 분포, 정성, 정량 등을 분석.주로 금속 등 도체, IC, 산화물 등 반도체, 고분자 재료나 세라믹 등 절연물의 고체, 분말, 박막시료가 표본이 됨.주사전자현미경(SEM
14페이지 | 1,600원 | 2010.08.14
주사전자현미경[SEM, FE-SEM], X선 형광 분석기[XRF],X선 회절 분석기[XRD],[TG-DTA], 입도분석기
시료의 형태, 미세구조의 관찰이나 구성원소의 분포, 정성, 정량 등을 분석하는 장치이다. 주로 금속과 같은 도체, IC, 산화물과 같은 반도체, 고분자 재료나 세라믹과 같은 절연물의 고체, 분말, 박막시료가 표본이 된다. 자기렌즈를 이용하여 전자빔을 가늘게 집속하여 이를 시료면 위에 주사함으로써
14페이지 | 2,200원 | 2013.12.23