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빛을 가늘게 하지 못한게 좀 아쉬웠다. 또 편광각을 구할 때는 눈대중으로 90도를 맞추어야 하므로 정확하지 못했다. 또 거울의 표면이 완벽하게 매끄럽지 않거나 기스 등의 흠이 있었을 수도 있어서 빛의 경로가 영향을 받았을 수 있다. 또 실험실 내부의 빛 때문에 처음 실험할 때는 광원 자체를 관찰하기가 어려운 점도 있었다. 광원으로 레이저도 함께 실험했다면 전반사로 렌즈의 굴절률을 구할 때 좀 더 정확한 값을 얻을 수도 있었을 것이다. 3. Refe

렌즈(electromagnetic Lens) 2.1.3 렌즈 (Condensing & Objective Lens)2.1.4 조리개 (Aperature) 2.1.5 축조정 코일 2.1.6 주사 코일 2.1.7 비점수차 보정 코일(Stigmator) 2.1.8 영상신호 검출장치 2.1.9 이차전자 검출기 (SED; secondary electron detector) 2.1.10 후방산란전자 검출기(back scattered electron detector) 2.1.11 X선 분석: EDS / WDS 2.1.12 고전압 발생장치 2.1.13 Stage와 시편 Holder 2.1.14 SEM Electronics 2.1.15 진공계 3. 시료 전처리 및 실험방법 3.1 AFM 시료 전처리 3.2 SEM의 시료 전처리 3.2.1 Hot

렌즈의 곡률이 일정하면 빛이 한 점으로 모이지 않고 이리저리 분산된다. 즉 렌즈 중심에서 먼 곳으로 들어온 빛은 더 많이 굴절되고 , 렌즈 중심쪽으로 들어온 빛은 거의 굴절되지 않는다. 당연히 렌즈가 크면 굴절률의 차이가 클 것이고 이론적으로라면 렌즈의 크기가 클 수록 구면 수차가 커지게 된다. 렌즈가 구면이기 때문에 벌어지는 이 현상을 구면수차라고 한다. 회절은 파동이 진행하면서 진행경로에 장애물이 있을 때 장애물 뒤쪽으로 파동이

굴절률이라고 한다. 입사각을 변화시키면 굴절각도 변한다. 그러나 의 값은 일정하다. 진공(또는 공기) 속에서 어떤 매질로 빛이 들어갈 때 굴절률을 그 물질의 절대 굴절률이라고 한다. 파동 이론에 의하면 어떤 매질의 절대 굴절률은 진동과 매질 속에서의 빛의 속력의 비로 나타낼 수 있다. 그러므로 절대 굴절률은매질 1에 대한 매질 2의 굴절률을 n12로 나타내고, 이것을 매질 1에 대한 매질 2의 상대 굴절률이라고 한다.4. 렌즈(1) 거울평면거울은

분석도구이다. 또 복잡한 표면을 입체적으로 볼 수 있다는 특징이 있다. SEM은 보통 두꺼운 시료의 표면 관찰에 쓰이지만 얇은 조각의 시료를 주사하여 투과전자선을 검출하면 TEM과 거의 같은 상을 만든다. 이것이 STEM 이다. 특별히 작은 전자원을 장비한 STEM은 TEM 못지 않은 고분해능을 가지며 고립된 원자의 상까지도 얻고 있다.3. 용도SEM은 금속파면, 광물과 화석, 반도체 소자와 회로망의 품질검사를 하는데 사용하거나 고분자 및 유기물 생체시료와