[재료분석실험] x선 회절 스펙트럼을 이용한 황화반응된 흡착제의 정량분석

실험방법 3.5.1 전자총 제어 3.5.2 축맞춤 3.5.3 사진촬영 3.5.4 SEM의 실습 3.5 AFM의 실험방법 3.5.1 Seiko SPA400 AFM 조작법 3.5.2 Seiko SPA400 DFM 조작법 4. 결과해석 방법 4.1 SEM 결과해석 4.1.1 표면형상분석 4.1.2 원자배열4.1.3 EDS를 이용한 정량, 정성분석4.2 AFM의 결과해석 4.2.1 이미지 왜곡 4.2.1. 팁의 모양4.2.2. 손상된 팁에 의한 Artefacts4.2.3 액상 시료의 이미지 왜곡4.2.4. 이미지 왜곡 해결 방안5.장단점 및 응용분야.5.1 응용분야Contents of FigureFigure 1. 광학현

정량분석 : 같은 에너지에서의 시료의 농도를 분석하는 방법이다. 예전에는 적외선 스펙트럼의 복잡성, 흡수띠들의 좁은 폭, 약한 광원세기, 검출기의 낮은 감지능 등으로 정량적으로 응용되지 않았지만 현재는 이용되고 있다. Ⅳ. 기기장치전형적인 적외선 분광계는 (그림 2)에서 보여주는 바와 같이 시료 광선과 기준 광선의 두 개의 광선을 사용한다. 회전 거울은 이 두 개의 광선을 교대로 단색화 장치(monochromator)에 투과시킨다. 프리즘 또는 회절격

Ⅰ. 서 론자외선과 가시선복사선을 이용하는 흡수측정법은 분자 화학 종의 정량 및 정성분석에 널리 이용되고 있다. 자외선/가시선 분자 흡수법은 전세계적으로 화학 및 임상실험실에서 가장 널리 이용되는 정량분석방법이다. 160내지 780nm의 파장 영역에 있는 전자기 복사선에 기초한 흡수 분광법에 일차적으로 응용할 수 있다. 그러나, 이중 일부는 동시에 적외선 분광법에도 응용할 수 있다. 자외선과 가시선에 기초한 흡수 측정은 다양한 무기 및 유

X선 회절을 이용하여 X선을 조사 하였을 때 미지시료의 회절 pattern 과 이미 알고 있는 물질의 회절 pattern 등을 비교하여 전자 중에 후자의 pattern이 포함되어 있으면, 전자에는 후자의 물질이 함유되어 있다고 판정하는 방법이다.이 방법으로 정성분석(Qualitative analysis)을 행하는 것을 분말X선회절법(Powder X-Ray Diffractometry)에 의한 정성분석, 동정(同定, Identification) 이라고 한다. 이미 알고 있는 물질의 회절 pattern을 표준으로 하는 ICDD card 의 data가 널리 사용

정량분석(quantitative analysis)어떤 시료에 대해 하나 이상의 성분의 양이나 비율을 결정하는 화학분석법. 정량분석의 방법에는 여러가지가 있는데 이들은 편의상 어떤 성질을 이용하는 가에 따라 크게 물리적 방법과 화학적 방법으로 분류된다. 화학적 방법은 침전중화산화 반응이나 일반적으로 새로운 화합물이 형성되는 반응과 관련되어 있다. 엄밀한 화학적 방법의 주요형태에는 무게분석과 용량분석(적정분석)이 있다. 물리적 방법은 밀도, 굴절률