[IR분광] IR분광(적외선스펙트럼)의 역사, IR분광법(적외선스펙트로메트리)의 원리, IR분광계(적외선스펙트로미터), IR분광(적외선스펙트럼) 측정장치, IR분광기(적외선스펙트로미터)에서 시료 상태에 따른 처리 방법 분석

시료취급 방법1. 고체시료 준비법2. 액체시료 준비법3. 기체시료 준비법Ⅶ. 실험시 주의사항Ⅷ. FTIR (fourier-Transformation Infrared)1. 원리2. 용도3. 기기특성4. FT-IR의 장점5. 장치 용도Ⅸ. 적외선 정량 분광법의 응용1. 방향족 탄화수소의 혼합물 분석2. 공기오염물의 정량3. 고체박막의 특성 분석4. 유기화합물의 구조 확인적외선 분광법Ⅰ. 개요 분자화학종들의 적외선 흡수, 방출 및 반사 스펙트럼은 어떤 진동, 회전에너지 상태에서 다른 에너지 상

적외선 스펙트럼에서는 2915, 1034, 1744 그리고 2089 에서 강한 흡수띠가 생기는데, 이는 예상치와 잘 일치한다. 또 이런 결합을 하나 또는 그 이상 가진 일련의 분자들은 계산된 진동수에 가가운 특성 띠를 갖는다. ⊙ FT-IR의 원리 - FT-IR분광계는 분산식 적외선 분광계와는 두 가지 부분에서 크게 다르다. 즉, 간섭계를 이용한 광학 장치와 컴퓨터 부분이다. FT-IR분광계에서 실용적으로 가장 많이 이용되고 있는 광학장치는 Michaelson간섭계이다. Michaelson간섭계

분광해서 스펙트럼 을 얻는 방법으로 프리즘을 사용하는 격자분광기, 빛의 간섭을 이용하는 간섭분광기 등이 있다.또 특수한 용도에 쓰이는 것으로는 적외선에 대한 물질의 흡수 스펙트럼을 조사해서 분자구조를 알아내는 적외선 분광기, 자외 선의 파자에 따라 금속면으로부터의 반사율이 다른데서 금속 내의 전자집단의 행동을 추정하는 자료를 얻는 자외선 반사측정용 분광광도계 등이 있고, 각기 특수한 광원 부분과 계측 및 기록 부분이 분광계

분광법 역사와 배경2. 이론적 배경2.1. 표면 분석2.2. 광전효과 2.2.1. 광전효과2.2.2 결합 에너지2.3. X-ray 광전자분광법(XPS)2.3.1. 에너지 식2.3.2. 일함수의 측정2.3.3. 스펙트럼의 분석3. X-ray Photoelectron Spectroscopy Equipment의 구성3.1. View of an X-ray Photoelectron Spectroscopy Equipment3.2. Components of XPS Equipment (ESCA)3.2.1. X-ray System3.2.1.1. X-ray Source3.2.1.2. Pin Hole3.2.2. 전자 에너지 분광계3.2.2.1. Sample3.2.2.1.1. Sample 준비 시 주의사항3.2.2.1.2. Sample 준비 방법3.2.2.1.3. Preparat

적외선 흡수 분광법은 분자의 운동과 회전운동에 관계가 있다. 어떤 분자에 적외선을 주사하면 X - 선이나 자외선, 가시광선보다 에너지가 낮기 때문에 원자내 전자의 전이 현상을 일으키지 못하고 분자의 진동(vibration), 회전(rotation), 병진(translation) 등과 같은 여러 분자운동을 일으키게 된다. 주로 분자의 진동에 의한 특수한 흡수 스펙트럼이 나타나며 이것을 분자의 진동 스펙트럼(molecular vibration spectrum) 또는 적외선 스펙트럼(IR spectrum)이라 한다. 분