X-ray Diffraction(XRD)

XRD(X-Ray Diffraction)- XRD 분석은 결정을 분석하는 실험 방법 중 하나로써 정성분석을 통해 혼합된 물질의 종류를 표준물질과 비교하여 어느 정도 확인할 수 있다는 장점이 있다. XRD 장비는 결정에 반사되는 X-Ray 분석을 통해 결정의 표면을 통해 반사되는 X-Ray 값을 받아 계산을 하여 Diagram을 작성하게 된다.Figure 6. XRD analysis and XRD data- XRD 분석의 단점은 Peak의 분석만을 통해 물질의 성질 만을 판단할 수 있다는 것이다. 정량 분석을 위해서는 Computational한 분

< Contents >Ⅰ. IntroductionⅡ. ProcedureⅢ. Analysis Device3.1 XRD(X-ray diffractometer)3.1.1 X선 회절의 원리3.1.2 X선 회절 장치 구성3.1.3 분석방법3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계3.2 SEM (Scanning Electron Microscope)3.2.1 SEM의 원리3.2.2 SEM으로 얻을 수 있는 정보3.2.3 SEM과 실험과의 관계3.3 Photoluminescence3.3.1 Luminescence의 원리 3.3.2 photoluminescence 장치3.3.3 PL과 실험과의 관계Ⅳ. OutroⅤ. ReferenceⅠ. IntroductionYAG (yttrium aluminum garnet)란 YAM (yttrium aluminum monoclinic), YAP (yttrium alu

1. X-Ray Diffractometer, XRD란? - XRD란 X-Ray Diffraction의 약자로서 X-ray를 어떠한 샘플에 투사하면 X선이 산란 및 회절을 하게 되는데 이러한 회절 패턴을 분석하는 것을 말한다. 이를 응용하면 물질의 미세 구조를 보다 정확하게 알 수 있다. - 회절 X선 스펙트럼을 이용하는 시성분석법. X선 회절사진의 흑화도를 측정하든가 또는 X선 회절계를 사용해서 고체시료의 회절 X선을 취해서 물질의 동정(同定) 혼합분말의 혼합화의 결정, 고용체의 분석 등을 하는 방법

XRD 구성- 1. X-ray 발생장치- 2. Goniometer- 3. 계수기록장치- 4. Filter4) XRD 실험방법- 1. 분말 X선 회절법에 의한 동정법의 특징- 2. X선에 의한 동정법의 한계- 3. ICDD card- 4. 색인서(Index book)3. 실험방법4. 결과분석- 1. 실험조건- 2. 결과분석- 3. 면간거리계산- 4. 격자상수계산- 5. 분 석 5. 결론6. Reference1. 실험목적X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 실험에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은

목 차1. 실험목적2. 배경이론3. 실험방법4. 예상결과5. XRD의 활용6. JCPDS(ICDD) FILE7. 참고문헌29-XRD를 이용한 미지의 시료 정량/정성 분석1. 실험목적X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 실험에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구수단으로서 널리 사용된다.본 실험에서는 전반적은 XRD를