[재료] 주사전자 현미경

주사전자현미경- 원리 : 초점이 잘 맞추어진 전자선 electron beam을 표본의 표면에 주사, 주사된 전자선이 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표면에서 발생된 이차전자는 검파기 detector에 의한 수집으로 생긴 신호들이 여러 점으로부터 모여들어 음극선관 cathod ray tube에 상을 형성된다. - 특징 : 주로 시료표면의 정보를 얻을 수 있고 시료 크기 및 준비에 크게 제약을 받지 않으므로, 금속, 세라믹, 반도체, 고분자합성체 등의 재료분야, 의

재료공학 기초 실험 - 주자전자현미경(SEM) 실험보고서1.실험 목적주사전자현미경(Scanning Electron Microscope : SEM)을 이용하여 재료의 미세구조를 관찰하는 방법을 학습한다.2. 실험 방법1)시험편의 준비세라믹 분말의 입자크기 및 소결체의 단면 평균 결정립 크기를 측정하기 위한 시편준비 과정에 따라 시험편을 준비한다.①시험편의 절단세라믹 분말의 경우에는 카본 테잎 위에 분말을 떨어뜨려 준비하며, 소결체의 경우에는 단면 분석을 위해 시험편

1. 실험의 목적재료의 표면을 현미경으로 관찰하면 석출상이나 결정립의 크기 및 형상 등을 판단할 수 있다. 광학 현미경이 배율 X 2,000 이하의 이미지를 얻을 수 있는데 비해 일반적으로 사용되는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)은 배율 X 100,000 이하의 고배율 이미지를 얻을 수 있고, FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy)는 최고 X 500,000의 배율로도 재료를 관찰 할 수 있다. 주사전자현미경 사진을 통해 재료 단면형상의 관찰, 분말의 입자 크기

재료의 미세조직을 보면 그 재료의 기계적 특성을 이해할 수 있다. 따라서 재료의 미세조직은광학현미경을 사용하여 관찰한다. 더욱 더 미세한 영역의 관찰을 위해서는 주사전자현미경이나 투과전자현미경을 사용하도록 한다.하지만 이번 실험에서는 광학현미경을 사용하여 미세조직을 관찰 할 것이고, 광학현미경의 시편을준비하는 법과 광학현미경 관찰법 및 조직사진 촬영법 등을 실습하여 보자.ⅰ. 실험일시2010년 05월 01일 AM09:00~ 12:50ⅱ. 실

주사하여 일어나는 회절 현상을 이용하여 결정구조를 분석하고 물질의 회절 패턴 등을 비교하여 전자 중에 후자의 패턴이 포함되어 있으면, 전자에는 후자의 물질이 함유되어 있다는 판정을 통해 시료의 정성분석과 결정구조 해석 등을 조사 할 수 있다.SEM(주사전자현미경) = 재료, 부품, 생체 등 관찰대상물의 미세한 부분을 확대하여 표면을 관찰하고 분석하는 현미경이다. 우리는 분말의 입자의 크기 및 형태가 형광체에 이상적인 지를 확인하기 위